上海仪电上分UV754N紫外可见分光光度计实验室光度测量分析测定仪

型号

uv 754n

波长范围：

200nm～1000nm

波长Zui大允许误差：

±2nm

波长重复性：

≤1nm

透射比Zui大允许误差：

±0.5%（t）（以nbs930d测定）

透射比重复性：

≤0.2%（t）

光谱带宽：

4nm

杂散光：

≤0.3%（t）(在220nm处，以nai测定，在360nm处，以nano2测定)

稳定性:

暗电流漂移：0.2%(t)/3min  亮电流漂移：0.5%(t)/3min