精科物光WGL光电轮廓仪(2007BCEIA金奖产品) 光学仪器

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1、本仪器采用非接触、光学相移干涉测量方法，测量时不损伤工件表面，能快速测得各种工件表面微观形貌的立体图形，并分析计算出测量结果。

2、适用于测量各种量块、光学零件表面的粗糙度；标尺、度盘的刻线深度；光栅的槽形结构镀层厚度和镀层边界处的结构形貌；磁（光）盘、磁头表面结构测量；硅片表面粗糙度及其上图形结构测量等等。
3、由于仪器测量精度高，具有非接触和三维测量的特点，并采用计算机控制和快速分析、计算测量结果，本仪器适用于各级测试、计量研究单位工矿企业计量室，精密加工车间，也适用于高等院校和科学研究单位等。

型号	wgl
在连续表面上，相邻二象素之间没有大于1 / 4波长的高度突变时：	1000一1nm
相邻二象素之间含有大于1 / 4波长的高度突变时：	130一1nm
测量的重复性：	δra≤0.5nm
物镜倍率:	40x
数值孔径:	φ65
工作距离:	0.5mm
仪器视场目视:	φ0.25mm
摄象:	0.13×0.13mm
仪器放大倍数目视:	500×
摄象（计算机屏幕观察）	2500×
接收器测量列阵:	1000x1000
象素尺寸:	5.2×5.2μm
测量时间采样（扫描）时间:	1s
仪器标准镜反射率（高）:	～50 %
反射率（低）:	～4 %
照明光源:白炽灯	6v 5w
绿色干涉滤光片波长:	λ≒530nm
半宽度	λ≒10nm

本产品的加工定制是否，品牌是上海物光，型号是WGL

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